楊正紅先生出席第56屆ISO/TC24/SC4標準化會(huì )議

      彼奧德技術(shù)總監儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司總經(jīng)理楊正紅先生，楊正紅先生作為中國代表團出席第56屆ISO/TC24/SC4標準化會(huì )議，作為中國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標準化技術(shù)委員會(huì )委員(sac/tc168)，參加中國代表團并出席本次會(huì )議，代表中國參加：

第3工作組(wg3,孔徑分布和孔隙率)

第8工作組(wg8,圖像法粒度分析)

第14工作組(wg14,超聲法粒度分析)

第17工作組(wg17,zeta電位測定方法)

等相關(guān)領(lǐng)域的標準討論和修訂。

楊正紅先生成為iso/tc24/sc4注冊會(huì )員 

      楊正紅先生在德國參加規模大的粉體機械加工及分析技術(shù)展(powtech 2019)之后，前往奧地利參加iso會(huì )議。

     會(huì )議期間，楊正紅先生與iso官員dr.matthias thommes教授(埃爾朗根-紐倫堡大學(xué),fau,圖左)和dr.andrei dukhin(美國分散技術(shù)公司ceo,圖左右)進(jìn)行了學(xué)術(shù)交流，并就對中國用戶(hù)的超聲粒度分析應用支持達成一致。